型号/规格：ZQ-358#$KSUN%^59#$制造商%^136#$全新%^60#$中国台湾

产品描述：蒸汽老化试验箱 湿气老化试验机电子零组件金属接脚沾锡性试验前的老化加速寿命时间试验。

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型号/规格：ZQ-358#$KSUN%^59#$制造商%^136#$全新%^60#$中国台湾

产品描述：蒸汽老化试验箱 湿气老化试验机电子零组件金属接脚沾锡性试验前的老化加速寿命时间试验。

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型号/规格：SK-VK358#$思科%^59#$制造商%^136#$全新%^640#$SK-VK3%^60#$东莞

产品描述：用于电子连接器、半导体IC、晶体管、二极管、液晶LCD、芯片电阻电容、零组件产业电子零组件金属接脚沾锡性试验前的老化加速寿命时间试验;半导体、被动组件、...

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型号/规格：SK-VK358#$思科%^59#$制造商%^136#$全新%^640#$SK-VK3%^60#$东莞

产品描述：用于电子连接器、半导体IC、晶体管、二极管、液晶LCD、芯片电阻电容、零组件产业电子零组件金属接脚沾锡性试验前的老化加速寿命时间试验;半导体、被动组件、...

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型号/规格：HTO-23

产品描述：全不锈钢蒸汽老化试验箱 蒸汽老化试验箱适用于电子连接器、半导体IC、晶体管、二管、液晶LCD、芯片电阻电容、组件产业、电子组件金属接脚沾锡性试验前的老...

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型号/规格：HTO-23

产品描述：全不锈钢蒸汽老化试验箱 蒸汽老化试验箱适用于电子连接器、半导体IC、晶体管、二管、液晶LCD、芯片电阻电容、组件产业、电子组件金属接脚沾锡性试验前的老...

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型号/规格：GT-ZQ-34

产品描述：主要技术参数： ·型号：GT-ZQ-34 ·内部尺寸：50×40×17cm ·外部尺寸：60×50×42cm

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型号/规格：GT-ZQ-34

产品描述：主要技术参数：  ·型号：GT-ZQ-34 ·内部尺寸：50×40×17cm ·外部尺寸：60×50×42cm

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型号/规格：AAS系列

产品描述：在人造板及饰面人造板加速老化性能测定试验中，进行热水浸泡和蒸汽喷蒸的处理；或在其他需要蒸汽喷蒸和热水浸煮试验中，作为水煮和喷蒸之设备。

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型号/规格：AAS系列

产品描述：在人造板及饰面人造板加速老化性能测定试验中，进行热水浸泡和蒸汽喷蒸的处理；或在其他需要蒸汽喷蒸和热水浸煮试验中，作为水煮和喷蒸之设备。

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产品描述：蒸气老化试验箱 [产品简介] 　　本产品适用于电子连接器、半导体IC、晶体管、二管、液晶LCD、芯片电阻电容、组件产业、电子组件金属接脚沾锡性试验前的老...

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产品描述：蒸气老化试验箱 [产品简介] 　　本产品适用于电子连接器、半导体IC、晶体管、二管、液晶LCD、芯片电阻电容、组件产业、电子组件金属接脚沾锡性试验前的老...

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产品描述：盐水喷雾试验乃针对各种材质之表面经电镀、阳处理、喷涂、锈油腐蚀处理后，测试其製品之耐蚀 性。适用国际标准：RELATEU STANDARDS CNS 3627、3885、4159、7...

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产品描述：盐水喷雾试验乃针对各种材质之表面经电镀、阳处理、喷涂、锈油腐蚀处理后，测试其製品之耐蚀 性。适用国际标准：RELATEU STANDARDS CNS 3627、3885、4159、7...

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产品描述：一、本机概述：该试验箱适用于电子连接器、半导体IC、晶体管、二管、液晶LCD、芯片电阻电容、组件产业电子组件金属接脚沾锡性试验前的老化加速寿命时间试验；...

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产品描述：一、本机概述：该试验箱适用于电子连接器、半导体IC、晶体管、二管、液晶LCD、芯片电阻电容、组件产业电子组件金属接脚沾锡性试验前的老化加速寿命时间试验；...

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型号/规格：DZ-8512

产品描述：测试盘尺寸：10㎝×4㎝×26㎝(W×H×D) 外箱尺寸：61㎝×54㎝×34㎝(W×H×D)

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型号/规格：DZ-8512

产品描述：测试盘尺寸：10㎝×4㎝×26㎝(W×H×D) 外箱尺寸：61㎝×54㎝×34㎝(W×H×D)

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产品描述：盐水喷雾试验乃针对各种材质之表面经电镀、阳处理、喷涂、锈油腐蚀处理后，测试其製品之耐蚀 性。适用国际标准：RELATEU STANDARDS CNS 3627、3885、4159、7...

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产品描述：盐水喷雾试验乃针对各种材质之表面经电镀、阳处理、喷涂、锈油腐蚀处理后，测试其製品之耐蚀 性。适用国际标准：RELATEU STANDARDS CNS 3627、3885、4159、7...

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